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学術論文:2022
“Simulation-Based Understanding of “Charge-Sharing Phenomenon” Induced by Heavy-Ion Incident on a 65 nm Bulk CMOS Memory Circuit”
IEICE Trans. Electron.
E105-C[1]
(2021) 47–50. /
DOI: 10.1587/transele.2021ECS6008
Akifumi Maru, Akifumi Matsuda, Satoshi Kuboyama, and Mamoru Yoshimoto
2021年
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